仪器名称：扫描微波阻抗显微镜

英文名称：

所属单位：西南石油大学

原值：185.000000万元

产地国别：美国

启用日期：2019-12-05 00:00:00

主要技术指标：噪音：RMS<0.03nm（垂直方向），横向分辨率：0.2nm（XY方向），可得到稳定的云母原子图像。 扫描方式：针尖扫描方式 光学定位系统： CCD、探针、样品处于一条垂直线上，定位更加精确。 分辨率优于1.5μm，最大视野大于2mm*2mm，LCD端放大倍数高于450倍，既能上部光照，也能下部光照。 Thermal tune功能：标定探针弹性常数，测试频率需要达到2MHz，适应各种弹性常数探针的标定需要 独立设置的三锁相通道，频率范围从0.1Hz到 6MHz，3dB的噪音水平，内置大气下和溶液下均能使用的Q control功能， 设置范围大于20倍 是德科技的专利技术SMM扫描微波原子力显微技术，在微纳米尺度上以较高的空间分辨率及阻抗分辨率来表征材料的介电及半导体性，将传统的微波测量技术与原子力显微镜（AFM）相结合来定量的测量材料的介电及半导体性能。这种技术比起传统的NSMM、SCM具备更高的测量优越性，首先其测量应用领域更加多样化，其次可以以高的空间分辨率来定量的表征材料电学性质与性能。SMM模式采用是德科操作分析软件来实时控制VAN与AFM的链接与信号传输、SMM数据的解析与校准。 在针尖和样品之间施加偏压，通过探针引入2G到20G可以变频的微波信号（独家专利技术），实现对于半导体等非线性材料的载流子类型和浓度的测量 通过探针引入2G到20G可以变频的微波信号可进行不同频率的阻抗特性测试，以及表面到亚表面不同深度的缺陷检测，且样品无损 采用是德的DLFM动态横向力模式与到导电AFM模式相结合，DLFM模式横向的微振幅成像，同时采集电流信号，可以避免软样品测试过程中接触模式的横向力对样品的损坏，导致结果失真。 将DLFM模式与MFM模式相结合，分别测量面外磁畴分布和面内磁畴分布 提供PicoView智能成像软件，软件自动寻峰、自动逼近、优化参数，非常方便新手上手操作 具有定量力学性能测试模式：在形貌成像的同时可同时获得样品的杨氏模量，粘附力，变形，能量损失等图像。

主要功能：AFM（接触及轻敲）及Phase-AFM（轻敲）:测试表面形貌、粗糙度、相位（Phase-AFM）； KPFM：测试表面形貌、粗糙度、相位、表面电势等电学信息；

操作流程/视频： 下载

样品前处理注意事项：

预约信息：状态（正常）

主要学科领域：材料科学

运行状态：正常

参考收费标准：KPFM：校外委托测试：400.00/样品，校外自行测试:300.00/样品；AFM：校外委托测试：300.00/样品，校外自行测试:200.00/样品

安放地址：四川省-成都市-新都区成都校区逸夫楼C216